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THz-TDS太赫茲時(shí)域光譜儀背景知識
基于超快激光的THz脈沖產(chǎn)生與探測技術(shù)發(fā)展起來(lái)的太赫茲時(shí)域光譜儀(Terahertz time domain spectroscopy, THz-TDS)技術(shù),是本世紀80年代由AT&T貝爾實(shí)驗室(AT&T Bell Laboratories)和IBM公司的T.J.Waston研究中心(IBM Thomas J. Watson Research Center)提出的。BATOP太赫茲時(shí)域光譜儀THz-TDS技術(shù)屬于電磁輻射位相相干探測技術(shù),是通過(guò)對THz脈沖不同時(shí)刻的電場(chǎng)強度進(jìn)行位相相關(guān)的取樣測量,獲得THz脈沖電場(chǎng)的時(shí)域波形。再對THz時(shí)域波形進(jìn)行傅立葉變換,獲得THz脈沖電場(chǎng)頻譜和位相信息。因此,太赫茲時(shí)域光譜儀THz-TDS可以同時(shí)直接探測被研究對象擾動(dòng)的THz波電場(chǎng)振幅和相位雙重信息。
Batop公司簡(jiǎn)介
BATOP成立于2003年,是一家曾隸屬于德國耶拿大學(xué)的私人創(chuàng )新型公司。公司配備了來(lái)自于實(shí)驗室領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)化技術(shù)開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)設計團隊,使得其公司產(chǎn)品具有很高的品質(zhì)和具有競爭力的價(jià)格。在過(guò)去幾年里,BATOP一直致力于太赫茲光電導天線(xiàn)PCA和 太赫茲時(shí)域光譜儀系統THz-TDS的研發(fā)。BATOP不僅提供單帶隙光電導天線(xiàn),還包括整合了微透鏡的高能大狹縫交叉光電導天線(xiàn)陣列。BATOP自主研發(fā)的太赫茲時(shí)域光譜儀THz-TDS性能穩定,各項參數優(yōu)秀,功能多樣:可實(shí)現快速掃描、配合外置的光纖耦合天線(xiàn)實(shí)現角度掃描、成像等功能。 BATOP借助強大的研發(fā)能力來(lái)不斷提高自己的產(chǎn)品。
太赫茲時(shí)域光譜儀TDS10XX產(chǎn)品特點(diǎn):
——內置樣品倉,可充氮氣進(jìn)行透反射測量
——規格多樣的外置光纖耦合光電導天線(xiàn)可選
——外置角度掃描裝置可選
——外置成像模塊可選
——T3DS軟件支持
TDS10XX太赫茲時(shí)域光譜儀各型號參數規格:
BATOP太赫茲時(shí)域光譜儀THz-TDS1008實(shí)測信號:
太赫茲時(shí)域光譜儀TDS1008可選配件:
名稱(chēng) 型號 描述 圖片 TDS 1008太赫茲時(shí)域光譜儀樣品倉內部可以切換的三種測量模塊,以及液體樣品池 透射模塊 SHT 樣品尺寸要求 大尺寸樣品架:30*30mm 小尺寸樣品架:10*10mm 包含兩個(gè)可拆卸TPXT透鏡 反射模塊 SHR 樣品尺寸要求 大尺寸樣品架:30*30mm 小尺寸樣品架:10*10mm 包含兩個(gè)可拆卸TPXT透鏡 入射角度30° 時(shí)間延遲150ps 衰減全反射模塊 SHA 樣品槽尺寸:25mm*40mm 被測樣品折射率:≤2.5 時(shí)間延遲:350ps TPX液體樣品池 CUV 需要放在透射樣品架上使用 樣品厚度10mm 時(shí)間延遲:15.3ps TDS 1008太赫茲時(shí)域光譜儀其他可選配件 快速掃描模塊 FSU 光纖耦合天線(xiàn) 2PCA 參考成像模塊和角度掃描模塊 成像模塊 IU150 掃描范圍:150mm*150mm 成像分辨率:可達300um 角度掃描模塊(手動(dòng)) T2T-m 手動(dòng)調節角度 角度掃描范圍:15°-90° 角度分辨率:0.5° 角度掃描模塊(自動(dòng)) T2T-a 可通過(guò)軟件調節角度 角度掃描范圍:15°-90° 角度分辨率:0.5°
樣品尺寸要求
大尺寸樣品架:30*30mm
小尺寸樣品架:10*10mm
包含兩個(gè)可拆卸TPXT透鏡
入射角度30°
時(shí)間延遲150ps
樣品槽尺寸:25mm*40mm
被測樣品折射率:≤2.5
時(shí)間延遲:350ps
需要放在透射樣品架上使用
樣品厚度10mm
時(shí)間延遲:15.3ps
掃描范圍:150mm*150mm
成像分辨率:可達300um
手動(dòng)調節角度
角度掃描范圍:15°-90°
角度分辨率:0.5°
可通過(guò)軟件調節角度
2歐元硬幣成像:
BATOP太赫茲時(shí)域光譜儀THz-TDS1008安裝現場(chǎng):
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